德國斯派克近日發(fā)布了新一代的SPECTRO MIDEX 小焦點能散型X射線熒光光譜儀，提高了分析速度和分析準確度。 SPECTRO MIDEX 小焦點能散型X射線熒光光譜儀 新一代的SPECTRO MIDEX 分析儀采用了創(chuàng)新的ED-XRF檢測技術(shù)，這個創(chuàng)新使此臺儀器成為測量貴金屬的中頻臺式XRF儀器之一。此臺儀器提高了元素分析的準確性，對貴金屬冶煉來說，這一點是非常重要的;同時減少了測試時間提高了樣品通量，大型的品質(zhì)認證是非常看重這一點的。此臺儀器操作簡便，并且可以很方便的將測試結(jié)果上傳到實驗室網(wǎng)絡(luò)中。 另外，SPECTRO MIDEX 的優(yōu)勢還包括： 在較寬的濃度范圍內(nèi)可保證較高的準確度;較短的分析時間(一般為30-40秒)。對于冶煉樣品的小飾品或者鉆粉，它的分析點位可以小至1毫米。對于均質(zhì)性較差的銀質(zhì)樣品，一個較大點位的平均分析結(jié)果可以有效的保證高準確度。 操作方便，軟件界面直觀，可在單一屏幕上展示所有相關(guān)信息。一個綜合性的視頻系統(tǒng)幫助操作者準確的放置樣品并定位分析點位。分析結(jié)果可展示、打印并上傳，大大方便了數(shù)據(jù)使用者。 成本低廉。適合于貴金屬測試辦公室、分析實驗室、品質(zhì)鑒定和冶煉實驗室。與ICP-OES和火試金法需要消解不同，它在分析成本和速度上更有優(yōu)勢。 高分辨率的硅漂移檢測器保證了微量和痕量元素分析的準確度。加上計數(shù)率，相同時間內(nèi)，信號強度增加了四倍。 與以前的120秒的分析時間相比，分析速度大大提高。在準確度不變的情況下，一次掃描僅需30秒。 儀器設(shè)計緊湊，樣品室較大，可處理小至針類珠寶大至銀片的樣品。將樣品放入升降臺，然后旋轉(zhuǎn)按鈕將其準確地放置在超優(yōu)的測量位置，關(guān)上分析儀，在屏幕上點擊開始即可開始分析